На недавней встрече участников американского Общества изучения материалов сотрудник Национальной лаборатории Сандия Элиот Фанг выступил с докладом в защиту методики компьютерного моделирования, заявив, что, по крайней мере в случае с нанотехнологиями, имитация способна обеспечить более высокую степень детализации, чем эксперименты. По словам Фанга, пришла пора отказаться от представления о компьютерном моделировании, описываемого выражением «мусор на входе, мусор на выходе», когда входные данные являются настолько обобщенными, что рассчитывать на получение каких-то неожиданных деталей после обработки не приходится. В подтверждение своих слов Фанг привел пример, когда в ходе исследования микросистемы с помощью атомно-силового микроскопа возникли необъяснимые изменения в структуре изучаемой поверхности, и лишь с помощью компьютерного моделирования удалось установить, что очень малая часть исследуемого вещества попросту оказалась на задевшем его наконечнике микроскопа.