Инженер-машиностроитель Университета Южной Каролины утверждает, что по-новому разобрался в причинах появления металлических «усов» — причины коротких замыканий в электронном оборудовании, известной еще с 1940-х годов. С помощью метода корреляции цифровых изображений он выяснил, что металлические волоски «вырастают» из олова, используемого в качестве припоя в электронных схемах, вследствие напряженности конструкций («высокого градиента деформации»). И по мере дальнейшей миниатюризации электроники эта проблема может усугубиться, полагает исследователь. Металлические «усы» вызывают дефекты во всевозможном оборудовании, от космических спутников до наручных часов. Раньше от оловянных волосков защищались путем использования свинцовых припоев. Однако из-за запретов на применение этого металла приходится искать другие решения.