В Национальном институте стандартов и технологий США разработана система визуализации, позволяющая быстро выстроить карту механических свойств фрагмента исследуемого материала площадью в несколько мкм2. Система полагается на специально разработанные ПО и электронику, которые анализируют данные, регистрируемые атомно-силовым микроскопом. Визуализатор действует, замеряя и интерпретируя изменения частоты вибрации наконечника микроскопа в процессе сканирования образца. На иллюстрации вверху — топографическая карта поверхности композитного материала, внизу — изображение, полученное после обработки ее системой. Последнее позволяет видеть, что стеклянные волокна жестче, чем окружающий их полимер, но в сердцевине — иногда мягки.

Поделитесь материалом с коллегами и друзьями

Купить номер с этой статьей в PDF