Специалисты Национального института стандартов и технологий США с коллегами из МТИ и IBM научились получать сведения о том, как края тонких металлических пленок влияют на их магнитные свойства. Ферромагнитные пленки толщиной от долей нанометра до нескольких микрон накладываются на подложку, например, в процессе изготовления жестких дисков. До сих пор не существовало способа определения магнитных свойств краев таких пленок, но с уменьшением площади поверхности пластин это становится все более необходимым. Исследователи спектроскопическим методом установили магнитные характеристики тонких никелево-железных пленок, размещенных в виде массива параллельных нанопроволок на кремниевой подложке. Их облучали микроволнами различных частот и измеряли возникающий при этом магнитный резонанс. (На фото: полученное спектроскопическое изображение. Пик в центре соответствует резонансам на краях полос.)

Поделитесь материалом с коллегами и друзьями